X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界*。 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

X射線熒光鍍層測厚儀測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高、穩定性好，測量結果*確至μin； 快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果； 可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析； 進行貴金屬檢測。

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界。 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導、損耗、絕緣的面電阻

X射線熒光鍍層測厚儀品牌：本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測系統，眾多Z佳條件的選擇，保證測試結果的準確性。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

菲希爾膜厚儀磁性渦流兩用型涂鍍層測厚儀 新款DUALSCOPE MPO涂鍍層測厚儀采用廣受承認的Fischer探頭技術，是較為小巧并能滿足您測量需要的儀器。它測量精度高、界面友好且結實耐用。對不復雜工件的現場測量尤為理想。內置探頭，由磁感應及電渦流方法，可快速無損地測量涂鍍層厚度。